2020 Article de Journal

Adversarial Deep Embedded Clustering: On a Better Trade-off Between Feature Randomness and Feature Drift

Mrabah, N., Bouguessa, M., Ksantini, R.

Publié dans
IEEE Transactions on Knowledge and Data Engineering
Éditeur
IEEE Computer Society
Pages
1603-1617
DOI
10.1109/tkde.2020.2997772
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